• Análise do impacto de NBTI e RTS em células SRAM e portas lógicas 

      Camargo, Vinícius Valduga de Almeida (2009) [Trabalho de conclusão de graduação]
      Este trabalho tem por objetivo analisar o impacto causado no atraso de propagação de portas lógicas e a probabilidade de falhas em células de memória estáticas de acesso aleatório (SRAM) devido a Negative Bias Temperature ...
    • CMOS digital integrated circuit design faced to NBTI and other nanometric effects 

      Dal Bem, Vinícius (2010) [Dissertação]
      Esta dissertação explora os desafios agravados pela miniaturização da tecnologia na fabricação e projeto de circuitos integrados digitais. Os efeitos físicos do regime nanométrico reduzem o rendimento da produção e encurtam ...
    • Modelagem e simulação de NBTI em circuitos digitais 

      Camargo, Vinícius Valduga de Almeida (2012) [Dissertação]
      A miniaturização dos transistores do tipo MOS traz consigo um aumento na variabilidade de seus parâmetros elétricos, originaria do processo de fabricação e de efeitos com dependência temporal, como ruídos e degradação ...