Navegação por Assunto "SRAMs"
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Evaluation of single event upset susceptibility of FinFET-based SRAMs with weak resistive defects
(2021) [Artigo de periódico]Fin Field-Efect Transistor (FinFET) technology enables the continuous downscaling of Integrated Circuits (ICs), using the Complementary Metal-Oxide Semiconductor (CMOS) technology in accordance with the More Moore domain. ... -
Técnicas de redução de potência estática em memórias CMOS SRAM e aplicação da associação de MOSFETs tipo TST em nano-CMOS
(2009) [Dissertação]Em nossos dias a crescente busca por portabilidade e desempenho resulta em esforços focados na maximização da duração de bateria dos equipamentos em fabricação, ou seja, busca-se a conflitante solução de circuitos com baixo ...