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Simple polarimetric approach to direct measurement of the near-surface refractive index in graded-index films

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Simple polarimetric approach to direct measurement of the near-surface refractive index in graded-index films

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Título Simple polarimetric approach to direct measurement of the near-surface refractive index in graded-index films
Autor Pereira, Marcelo Barbalho
Horowitz, Flavio
Abstract In the standardM-line method for the characterization of graded-index films, an analytical curve is fitted to the waveguide mode measurements and extrapolated to provide the refractive index in the zero-depth limit. Here we review our polarimetric approach to a direct near-surface measurement, which complements the M-line method. Also, we present its new and more straightforward version, which is applicable to existing samples and does not require masking before ion exchange. © 2003 Optical Society of America.
Contido em Applied optics. New York. Vol. 42, no. 16 (June 2003), p. 3268-3270
Assunto Filmes oticos
Polarimetria
Troca iônica
Origem Estrangeiro
Tipo Artigo de periódico
URI http://hdl.handle.net/10183/107158
Arquivos Descrição Formato
000371781.pdf (76.26Kb) Texto completo (inglês) Adobe PDF Visualizar/abrir

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