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Analysis of dip coating processing parameters by double optical monitoring

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Analysis of dip coating processing parameters by double optical monitoring

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Título Analysis of dip coating processing parameters by double optical monitoring
Autor Horowitz, Flavio
Michels, Alexandre Fassini
Abstract Double optical monitoring is applied to determine the influence of main process parameters on the formation of sulfated zirconia and self-assembled mesoporous silica solgel films by dip coating. In addition, we analyze, for the first time to the best of our knowledge, the influence of withdrawal speed, temperature, and relative humidity on refractive-index and physical thickness variations (uncertainties of 0.005 and 7 nm) during the process. Results provide insight into controlled production of single and multilayer films from complex fluids by dip coating.
Contido em Applied optics (2004). Washington, DC. Vol. 47, no. 13 (May 2008), p. C185-C188
Assunto Compostos de silício
Compostos de zirconio
Filmes líquidos
Indice de refracao
Materiais mesoporosos
Origem Estrangeiro
Tipo Artigo de periódico
URI http://hdl.handle.net/10183/107167
Arquivos Descrição Formato
000645757.pdf (1.001Mb) Texto completo (inglês) Adobe PDF Visualizar/abrir

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