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Spectral polarimetry technique as a complementary tool to ellipsometry of dielectric films

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Spectral polarimetry technique as a complementary tool to ellipsometry of dielectric films

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Evento Optical Society of America. Topical Meeting on Optical Interference Coatings. (11. : 2010 June 6–11 : Tucson)
Título Spectral polarimetry technique as a complementary tool to ellipsometry of dielectric films
Autor Pereira, Marcelo Barbalho
Barreto, Bruno Jacques
Horowitz, Flavio
Contido em Applied optics (2004). Washington, DC
Assunto Filmes finos
Polarimetria
Propriedades oticas
Origem Estrangeiro
Tipo Trabalho completo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/107245
Arquivos Descrição Formato
000825223.pdf (277.4Kb) Texto completo (inglês) Adobe PDF Visualizar/abrir

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