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Metrologia em nanoescala: "Round Robin" entre técnicas de análise baseadas em íons, raios X e elétrons.

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Metrologia em nanoescala: "Round Robin" entre técnicas de análise baseadas em íons, raios X e elétrons.

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Evento Salão de Iniciação Científica (26. : 2014 out. 20-24 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título Metrologia em nanoescala: "Round Robin" entre técnicas de análise baseadas em íons, raios X e elétrons.
Autor Figini, Ester Riedner
Orientador Azevedo, Gustavo de Medeiros
Sessão Processamento e análise de materiais ii
Temática Processamento e análise de materiais
Assunto Ciências exatas e da terra
Física
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/113942
Arquivos Descrição Formato
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