Repositório Digital

A- A A+

MONTAGEM E CARACTERIZAÇÃO DA TÉCNICA TOF-SIMS PARA ANÁLISE SUPERFICIAL DE MATERIAIS

.

MONTAGEM E CARACTERIZAÇÃO DA TÉCNICA TOF-SIMS PARA ANÁLISE SUPERFICIAL DE MATERIAIS

Mostrar registro completo

Estatísticas

Evento Salão de Iniciação Científica (27. : 2015 out. 19-23 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título MONTAGEM E CARACTERIZAÇÃO DA TÉCNICA TOF-SIMS PARA ANÁLISE SUPERFICIAL DE MATERIAIS
Autor Duarte, Cesar Bergamin
Orientador Weibel, Daniel Eduardo
Sessão Quimica de materiais 1
Temática Química de materiais
Assunto Ciências exatas e da terra
Química
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/135779
Arquivos Descrição Formato
Resumo_40295.pdf (835.8Kb) Resumo Adobe PDF Visualizar/abrir
Poster_40295.pdf (838.2Kb) Poster Adobe PDF Visualizar/abrir

Este item está licenciado na Creative Commons License

Este item aparece na(s) seguinte(s) coleção(ões)


Mostrar registro completo

Percorrer



  • O autor é titular dos direitos autorais dos documentos disponíveis neste repositório e é vedada, nos termos da lei, a comercialização de qualquer espécie sem sua autorização prévia.
    Projeto gráfico elaborado pelo Caixola - Clube de Criação Fabico/UFRGS Powered by DSpace software, Version 1.8.1.