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Metodologia de autoteste embarcado para conversores AD em sistemas programáveis de sinal misto

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Metodologia de autoteste embarcado para conversores AD em sistemas programáveis de sinal misto

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Título Metodologia de autoteste embarcado para conversores AD em sistemas programáveis de sinal misto
Autor Turcati, Aquiles
Orientador Balen, Tiago Roberto
Data 2014
Nível Graduação
Instituição Universidade Federal do Rio Grande do Sul. Escola de Engenharia. Curso de Engenharia Elétrica.
Assunto Engenharia elétrica
[en] Built-in self-test
[en] Histogram test
[en] Mixed-signal testing
[en] System-on-chip
[en] Test strategies
Resumo Este trabalho apresenta uma Metodologia de autoteste embarcado de conversores AD em sistemas programáveis de sinal misto, caracterizando o conversor AD de interesse quanto ao erro de offset, erro de ganho, não linearidade integral (INL), não linearidade diferencial (DNL) por meio do método do histograma. A metodologia aplicada consiste em gerar e aplicar um sinal de excitação, tipo rampa triangular com função densidade de probabilidade conhecida, no conversor AD sob teste. Armazenar o número de ocorrência de cada código de saída constituindo o histograma, estimar as características de desempenho e exportar os resultados para um computador. O autoteste tem como base o sistema programável PSoC1 (Programmable System on Chip 1) presente no kit de desenvolvimento CY3214 da Cypress Semiconductor.
Abstract This paper presents a test strategy for Built-in Self Test (BIST) of an Analog to Digital converter embedded in a programmable mixed-signal system. The test, performed through the histogram method, is focused on static parameter of the AD converter, such as the offset error, gain error, integral non-linearity (INL) and differential non-linearity (DNL). The methodology is based on the application of a signal with known probability density function (like a triangular ramp) to the AD converter under test as input stimulus. The number of occurrences of each output code is stored to generate the histogram and to estimate the performance characteristics that are exported to an external computer. The converter under test is embedded on the PSoC1 (Programmable System on Chip 1) present in CY3214 development kit from Cypress Semiconductor.
Tipo Trabalho de conclusão de graduação
URI http://hdl.handle.net/10183/140959
Arquivos Descrição Formato
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