Circuito Teste para Caracterização de Variabilidade de Diodos Schottky
dc.contributor.advisor | Klimach, Hamilton Duarte | pt_BR |
dc.contributor.author | Ribeiro, Thales Stedile | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2017-03-20T10:50:42Z | pt_BR |
dc.date.issued | 2016 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/154397 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.title | Circuito Teste para Caracterização de Variabilidade de Diodos Schottky | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Salão de Iniciação Científica (28. : 2016 set. 12-16 : UFRGS, Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.subject.session | Microeletrônica | pt_BR |
dc.subject.theme | Microeletrônica | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Ciências exatas e da terra | pt_BR |
dc.type.presentation | Apresentação oral | pt_BR |
dc.description.number | 6 | pt_BR |
dc.identifier.sic | 47484 | pt_BR |
dc.subject.macro | Informática | pt_BR |
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