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Transistor level automatic generation of radiation-hardened circuits

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Transistor level automatic generation of radiation-hardened circuits

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Título Transistor level automatic generation of radiation-hardened circuits
Outro título Geração automática de circuitos tolerantes a radiação no nível de transistores
Autor Lazzari, Cristiano
Orientador Reis, Ricardo Augusto da Luz
Co-orientador Anghel, Lorena
Data 2007
Nível Doutorado
Instituição Universidade Federal do Rio Grande do Sul. Instituto de Informática. Programa de Pós-Graduação em Microeletrônica.
Assunto Cmos
Layout : Circuitos integrados
Microeletronica
[en] Low leakage
[en] Radiation-hardened circuits
[en] Transistor level automatic layout generation
[en] Transistor sizing
Resumo Tecnologias submicrônicas (DSM) têm inserido novos desafios ao projeto de circuitos devido a redução de geometrias, redução na tensão de alimentação, aumento da freqüência e aumento da densidade de lógica. Estas características reduzem significativamente a confiabilidade dos circuitos integrados devido a suscetibilidade a efeitos como crosstalk e acoplamento de substrato. Ainda, os efeitos da radiação são mais significantes devido as partículas com baixa energia começam a ser um problema em tecnologias DSM. Todas essas características enfatizam a necessidade de novas ferramentas de automação. Um dos objetivos desta tese é desenvolver novas ferramentas aptas a lidar com estes desafios. Esta tese é dividida em duas grandes contribuições. A primeira está relacionada com o desenvolvimento de uma nova metodologia com o objetivo de gerar circuitos otimizados em respeito ao atraso e ao consumo de potência. Um novo fluxo de projeto é apresentado na qual o circuito é otimizado no nível de transistor. Esta metodologia permite otimizar cada transistor de acordo com as capacitâncias associadas. Diferente da metodologia tradicional, o leiaute é gerado sob demanda depois do processo de otimização de transistores. Resultados mostram melhora de 11% em relação ao atraso dos circuitos e 30% de redução no consumo de potência em comparação à metodologia tradicional. A segunda contribuição está relacionada com o desenvolvimento de técnicas de geração de circuitos tolerantes a radiação. Uma técnica CWSP é usada para aplicar redundância temporal em elementos seqüenciais. Esta técnica apresenta baixa utilização de área, mas as penalidades no atraso estão totalmente relacionadas com a duração do pulso que se planeja atenuar. Além disso, uma nova metodologia de dimensionamento de transistores para falhas transientes é apresentada. A metodologia de dimensionamento é baseada em um modelo analítico. O modelo considera independente blocos de transistores PMOS e NMOS. Então, somente transistores diretamente relacionados à atenuação são dimensionados. Resultados mostram área, atraso e consumo de potência reduzido em comparação com as técnicas CWSP e TMR, permitindo o desenvolvimento de circuitos com alta freqüência.
Abstract Deep submicron (DSM) technologies have increased the challenges in circuit designs due to geometry shrinking, power supply reduction, frequency increasing and high logic density. The reliability of integrated circuits is significantly reduced as a consequence of the susceptibility to crosstalk and substrate coupling. In addition, radiation effects are also more significant because particles with low energy, without importance in older technologies, start to be a problem in DSM technologies. All these characteristics emphasize the need for new Electronic Design Automation (EDA) tools. One of the goals of this thesis is to develop EDA tools able to cope with these DSM challenges. This thesis is divided in two major contributions. The first contribution is related to the development of a new methodology able to generate optimized circuits in respect to timing and power consumption. A new design flow is proposed in which the circuit is optimized at transistor level. This methodology allows the optimization of every single transistor according to the capacitances associated to it. Different from the traditional standard cell approach, the layout is generated on demand after a transistor level optimization process. Results show an average 11% delay improvement and more than 30% power saving in comparison with the traditional design flow. The second contribution of this thesis is related with the development of techniques for radiation-hardened circuits. The Code Word State Preserving (CWSP) technique is used to apply timing redundancy into latches and flipflops. This technique presents low area overhead, but timing penalties are totally related with the glitch duration is being attenuated. Further, a new transistor sizing methodology for Single Event Transient (SET) attenuation is proposed. The sizing method is based on an analytic model. The model considers independently pull-up and pull-down blocks. Thus, only transistors directly related to the SET attenuation are sized. Results show smaller area, timing and power consumption overhead in comparison with TMR and CWSP techniques allowing the development of high frequency circuits, with lower area and power overhead.
Tipo Tese
URI http://hdl.handle.net/10183/15506
Arquivos Descrição Formato
000681529.pdf (3.824Mb) Texto completo Adobe PDF Visualizar/abrir

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