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Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico

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Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico

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Título Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
Autor Orellana Hurtado, Carlos Jesus
Orientador Susin, Altamiro Amadeu
Co-orientador Reis, Ricardo Augusto da Luz
Wagner, Tiaraju Vasconcellos
Data 1986
Nível Mestrado
Instituição Universidade Federal do Rio Grande do Sul. Instituto de Informática. Curso de Pós-Graduação em Ciência da Computação.
Assunto Depuração : Circuitos integrados
Microeletronica
Microscopio eletronico : Varredura
Testes : Circuitos integrados
Resumo O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados.
Tipo Dissertação
URI http://hdl.handle.net/10183/2245
Arquivos Descrição Formato
000316300.pdf (15.48Mb) Texto completo Adobe PDF Visualizar/abrir

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