Mostrar registro simples

dc.contributor.advisorSusin, Altamiro Amadeupt_BR
dc.contributor.authorOrellana Hurtado, Carlos Jesuspt_BR
dc.date.accessioned2007-06-06T17:21:00Zpt_BR
dc.date.issued1986pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/2245pt_BR
dc.description.abstractO trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados.pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.subjectTestes : Circuitos integradospt_BR
dc.subjectMicroscopio eletronico : Varredurapt_BR
dc.subjectDepuração : Circuitos integradospt_BR
dc.titleUma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônicopt_BR
dc.typeDissertaçãopt_BR
dc.contributor.advisor-coReis, Ricardo Augusto da Luzpt_BR
dc.contributor.advisor-coWagner, Tiaraju Vasconcellospt_BR
dc.identifier.nrb000316300pt_BR
dc.degree.grantorUniversidade Federal do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.degree.departmentInstituto de Informáticapt_BR
dc.degree.programCurso de Pós-Graduação em Ciência da Computaçãopt_BR
dc.degree.localPorto Alegre, BR-RSpt_BR
dc.degree.date1986pt_BR
dc.degree.levelmestradopt_BR


Thumbnail
   

Este item está licenciado na Creative Commons License

Mostrar registro simples