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dc.contributor.advisorCota, Erika Fernandespt_BR
dc.contributor.authorMeirelles, Paulo Roberto Mirandapt_BR
dc.date.accessioned2010-09-02T04:18:56Zpt_BR
dc.date.issued2008pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/25520pt_BR
dc.description.abstractSistemas embarcados estão mais complexos e são cada vez mais utilizados em contextos que exigem muitos recursos computacionais. Isso significa que o hardware embarcado pode ser composto por vários processadores, memórias, partes reconfiguráveis e ASIPs integrados em um único silício. Adicionalmente, o software embarcados pode conter muitas rotinas de programação executadas sob restrição de processamento e memória. Esse cenário estabelece uma forte dependência entre o hardware e o software embarcado. Portanto, o teste de um sistema embarcado compreende o teste do hardware e do software. Neste contexto, a reutilização de procedimentos e estruturas de teste é um caminho para se reduzir o tempo de desenvolvimento e execução dos testes. Neste trabalho é apresentado um método de teste integrado de hardware e software. Nesse método, casos de teste desenvolvidos para testar o software embarcado também são usados para testar o seu processador. Comparou-se os custos e cobertura de falhas do método proposto com técnicas de auto-teste funcional. Os resultados experimentais demonstraram que foi possível reduzir os custos de aplicação e geração do teste do sistema usando um método de teste integrado de software e hardware.pt_BR
dc.description.abstractEmbedded Systems are more complexity. Nowadays, they are used in context that requires computational resources. This means an embedded hardware may be compound of several processors, memories, reconfigurable parts, and ASICs integrated in a single die. Additionally, an embedded software has a lot of programming procedures, which is under processing and memory constraints. This scenario provides a stronger connection between hardware and software. Therefore, the test of an embedded system is the test of both, hardware and software. In this context, reuse of testing structures and procedures is one way to reduce the test development time and execution. This work presents an integrated test of software and software method. In this method, test cases developed to test the embedded software are also used to test its processor. We compared the costs and fault coverage of our proposed method with techniques of functional self-test. The experimental results show that it is possible to reduce the implementation and test generation costs using an integrated test of software and hardware.en
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.subjectEmbedded systemsen
dc.subjectMicroprocessadorespt_BR
dc.subjectMicroprocessor testingen
dc.subjectSoftware testingen
dc.subjectTestes : Softwarept_BR
dc.subjectInjecao : Falhaspt_BR
dc.subjectHardware testingen
dc.subjectSistemas embarcadospt_BR
dc.subjectProcess testingen
dc.subjectFault injectionen
dc.titleTeste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadorespt_BR
dc.title.alternativeIntegrated test of software and hardware: reusing software test cases to test of microprocessor en
dc.typeDissertaçãopt_BR
dc.contributor.advisor-coLubaszewski, Marcelo Soarespt_BR
dc.identifier.nrb000751158pt_BR
dc.degree.grantorUniversidade Federal do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.degree.departmentInstituto de Informáticapt_BR
dc.degree.programPrograma de Pós-Graduação em Computaçãopt_BR
dc.degree.localPorto Alegre, BR-RSpt_BR
dc.degree.date2008pt_BR
dc.degree.levelmestradopt_BR


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