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A high-fault-coverage approach for the test of data, control, and handshake interconnects in mesh networks-on-chip

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A high-fault-coverage approach for the test of data, control, and handshake interconnects in mesh networks-on-chip

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Título A high-fault-coverage approach for the test of data, control, and handshake interconnects in mesh networks-on-chip
Autor Cota, Erika Fernandes
Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
Santos, Maico Cassel dos
Hervé, Marcos Barcellos
Almeida, Pedro Rogério Vieira de
Meirelles, Paulo Roberto Miranda
Amory, Alexandre de Morais
Lubaszewski, Marcelo Soares
Abstract A novel strategy for detecting interconnect faults between distinct channels in networks-on-chip is proposed. Short faults between distinct channels in the data, control, and communication handshake wires are considered in a cost-effective test sequence for mesh NoC topologies based on XY routing.
Contido em IEEE transactions on computers. New York. Vol. 57, no 9 (Sept. 2008), p. 1202-1215
Assunto Microeletronica
[en] Fault coverage
[en] Interconnect testing
[en] Reliability
[en] Test generation
Origem Estrangeiro
Tipo Artigo de periódico
URI http://hdl.handle.net/10183/27611
Arquivos Descrição Formato
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