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Using bulk built-in current sensors to detect soft errors

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Using bulk built-in current sensors to detect soft errors

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Título Using bulk built-in current sensors to detect soft errors
Autor Henes Neto, Egas
Ribeiro, Ivandro da Silva
Vieira, Michele Gusson
Wirth, Gilson Inacio
Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
Contido em IEEE micro : chips, systems, software, and applications. Los Alamitos. p. 10-18
Assunto Microeletronica
Origem Estrangeiro
Tipo Artigo de periódico
URI http://hdl.handle.net/10183/27691
Arquivos Descrição Formato
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