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Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes

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Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes

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Título Análise não paramétrica de falhas ao longo do calendário para alto-falantes
Autor Martins, Vera Lúcia Milani
Werner, Liane
Resumo A análise de dados de garantia é uma importante fonte de informação para descrever o comportamento dos tempos de falha. Cada produto possui um desempenho único ao ser iniciado o seu uso. O presente trabalho aborda uma modelagem não paramétrica para as falhas ao longo do calendário de alto-falantes, tipo subwoofer com 550 Wrms de potência, item considerado como não reparável. A modelagem das falhas é apresentada conforme duas formas de organização dos dados: a) falhas ao longo do calendário no período de garantia para tamanho de amostras diferentes e b) falhas ao longo do calendário no período de garantia para tamanho de amostras iguais, as estimativas de sobrevivência são geradas através do estimador de Kaplan-Meier. Os resultados mostram que há diferença signifi cativa entre as curvas geradas, e que para cada idade de falha, a curva que melhor representou as falhas é a estimada com tamanhos de amostras iguais.
Abstract The data analysis of products within warranty time is very important to describe the period of failure throughout the calendar of the product. Every product has its own and unique behavior since the start of its use. This paper deals with non-parametric modeling for failures throughout the calendar of subwoofer loudspeakers with 550 Wrms power, an item considered irreparable. The modeling of these failures is presented in two forms to organize the data: a) Failure throughout the calendar within the warranty time, making use of a different quantity for each sample; b) Failure throughout the calendar within the warranty time, making use of the same quantity for each sample. The estimated lifetime is generated by the Kaplan-Meier’s estimating. The results show a signifi cant difference among the generated curves. For each failure time, the best representative failure curve is the one estimated with the same quantity for each sample.
Contido em Produto & produção. Porto Alegre. Vol. 11, no. 3 (out. 2010), p. 7-18
Assunto Estatística não-paramétrica
Inferencia nao parametrica
[en] Kaplan-Meier
[en] Loudspeakers
[en] Reliability
Origem Nacional
Tipo Artigo de periódico
URI http://hdl.handle.net/10183/29221
Arquivos Descrição Formato
000764298.pdf (844.5Kb) Texto completo Adobe PDF Visualizar/abrir

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