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Device degradation and resilient computing

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Device degradation and resilient computing

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Evento Iscas ( 2008 May 18-21 : Seattle, Washington)
Título Device degradation and resilient computing
Autor Glösekötter, Peter
Greveler, Ulrich
Wirth, Gilson Inacio
Contido em IEEE International Symposium on Circuits and Systems (2008 May 18-21 : Seattle, Washington). [Proceedings]. [Los Alamitos] : IEEE, 2008.
Assunto Microeletronica
Origem Estrangeiro
Tipo Trabalho completo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/30284
Arquivos Descrição Formato
000649170.pdf (171.6Kb) Texto completo Adobe PDF Visualizar/abrir

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