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Medida elétrica de defeitos eletricamente ativos na interface SiC/SiO/sub 2/

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Medida elétrica de defeitos eletricamente ativos na interface SiC/SiO/sub 2/

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Estatísticas

Evento Salão de iniciação Científica (18. : 2006 out. 15-20 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título Medida elétrica de defeitos eletricamente ativos na interface SiC/SiO/sub 2/
Autor Contini, André Carlos
Palmieri, Rodrigo
Radtke, Claudio
Orientador Boudinov, Henri Ivanov
Contido em Salão de Iniciação Científica (18. : 2006 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2006.
Sessão Propriedades Físicas de Materiais A
Assunto Ciências exatas e da terra
Física
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/36159
Arquivos Descrição Formato
000568679.pdf (19.40Kb) Resumo Adobe PDF Visualizar/abrir

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