Repositório Digital

A- A A+

Medidas de retroespalhamento de Rutherford em filmes de SiO/sub 2/ implantados com íons de Ge e Sn

.

Medidas de retroespalhamento de Rutherford em filmes de SiO/sub 2/ implantados com íons de Ge e Sn

Mostrar registro completo

Estatísticas

Evento Salão de iniciação Científica (15. : 2003 nov. 24-28 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título Medidas de retroespalhamento de Rutherford em filmes de SiO/sub 2/ implantados com íons de Ge e Sn
Autor Kremer, Felipe
Lopes, João Marcelo Jordão
Zawislak, Fernando Claudio
Contido em Salão de Iniciação Científica (15. : 2003 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2003.
Sessão Caracterização de Materiais
Assunto Ciências exatas e da terra
Física
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/40368
Arquivos Descrição Formato
000404368.pdf (11.90Kb) Resumo Adobe PDF Visualizar/abrir

Este item está licenciado na Creative Commons License

Este item aparece na(s) seguinte(s) coleção(ões)


Mostrar registro completo

Percorrer



  • O autor é titular dos direitos autorais dos documentos disponíveis neste repositório e é vedada, nos termos da lei, a comercialização de qualquer espécie sem sua autorização prévia.
    Projeto gráfico elaborado pelo Caixola - Clube de Criação Fabico/UFRGS Powered by DSpace software, Version 1.8.1.