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Caracterização estrutural de nanoilhas de Pb na interface de Si/ SiO2 sintetizadas a partir de implantação iônica através da técnica MEIS

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Caracterização estrutural de nanoilhas de Pb na interface de Si/ SiO2 sintetizadas a partir de implantação iônica através da técnica MEIS

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Evento Salão de Iniciação Científica (23. : 2011 out. 3-7 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título Caracterização estrutural de nanoilhas de Pb na interface de Si/ SiO2 sintetizadas a partir de implantação iônica através da técnica MEIS
Autor Rodrigues, Frâncio Souza Berti
Orientador Fichtner, Paulo Fernando Papaleo
Sessão Nanomateriais
Temática Processamento e análise de materiais
Assunto Ciências exatas e da terra
Física
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/47441
Arquivos Descrição Formato
Resumo_11533.pdf (84.36Kb) Resumo Adobe PDF Visualizar/abrir
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