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O impacto do NBTI na confiabilidade de circuitos aritméticos

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O impacto do NBTI na confiabilidade de circuitos aritméticos

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Evento Salão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título O impacto do NBTI na confiabilidade de circuitos aritméticos
Autor Silva, Maurício Banaszeski da
Camargo, Vinicius Valduga de Almeida
Brusamarello, Lucas
Orientador Wirth, Gilson Inacio
Contido em Salão de Iniciação Científica (20. : 2008 out. 20-24 : Porto Alegre, RS). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2008.
Sessão Microeletrônica
Assunto Ciências exatas e da terra
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/50524
Arquivos Descrição Formato
Resumo_200801561.pdf (12.16Kb) Resumo Adobe PDF Visualizar/abrir

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