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dc.contributor.advisorLubaszewski, Marcelo Soarespt_BR
dc.contributor.authorErigson, Marcelo Ienczczakpt_BR
dc.date.accessioned2012-11-22T01:40:56Zpt_BR
dc.date.issued2004pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/61229pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (16. : 2004 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2004.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.titleEscalonamento de testes em uma rede intra-chip para teste de sistemas em silíciopt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de iniciação Científica (16. : 2004 out. 25-29 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.identifier.nrb000454834pt_BR
dc.subject.sessionEngenharia Elétrica e Computação Bpt_BR
dc.subject.cnpqEngenhariaspt_BR
dc.description.number268pt_BR
dc.type.originNacionalpt_BR


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