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Estudo estrutural por microscopia eletrônica de transmissão (TEM) de amostras semicondutoras de arseneto de gálio (GAAS) implantadas com érbio

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Estudo estrutural por microscopia eletrônica de transmissão (TEM) de amostras semicondutoras de arseneto de gálio (GAAS) implantadas com érbio

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Evento Salão de iniciação Científica (16. : 2004 out. 25-29 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título Estudo estrutural por microscopia eletrônica de transmissão (TEM) de amostras semicondutoras de arseneto de gálio (GAAS) implantadas com érbio
Autor Oliveira, Roana Melina de
Orientador Maltez, Rogerio Luiz
Contido em Salão de Iniciação Científica (16. : 2004 : Porto Alegre) . Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2004.
Sessão Implantação Iônica e Análise Elementar
Assunto Ciências exatas e da terra
Física
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/61509
Arquivos Descrição Formato
000528900.pdf (109.7Kb) Resumo Adobe PDF Visualizar/abrir

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