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Nanometrologia quantitativa utilizando feixes de íons

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Nanometrologia quantitativa utilizando feixes de íons

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Evento Salão de Iniciação Científica (24. : 2012 out. 1-5 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título Nanometrologia quantitativa utilizando feixes de íons
Autor Müller, Matheus Vicente Wrasse Wiebusch
Orientador Grande, Pedro Luis
Sessão Processamento e análise de materiais i
Temática Processamento e análise de materiais
Assunto Ciências exatas e da terra
Física
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/63731
Arquivos Descrição Formato
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