Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA

dc.contributor.author	Silva Junior, Agenor Hentz da	pt_BR
dc.contributor.author	Campos, Cristiani Silveira	pt_BR
dc.contributor.author	Soares, Marcos Roberto Farias	pt_BR
dc.contributor.author	Vasconcellos, Marcos Antonio Zen	pt_BR
dc.date.accessioned	2013-10-17T01:49:46Z	pt_BR
dc.date.issued	2000	pt_BR
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10183/79396	pt_BR
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.relation.ispartof	Salão de Iniciação Científica (12. : 2000 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2000.	pt_BR
dc.rights	Open Access	en
dc.subject	Física	pt_BR
dc.title	Determinação de perfis em profundidade de impurezas implantadas através da técnica de microanálise eletrônica, EPMA	pt_BR
dc.type	Resumo publicado em evento	pt_BR
dc.contributor.event	Salão de iniciação Científica (12. : 2000 set. 11-15 : UFRGS, Porto Alegre, RS).	pt_BR
dc.identifier.nrb	000280568	pt_BR
dc.subject.session	Implementação Iônica	pt_BR
dc.subject.cnpq	Ciências exatas e da terra	pt_BR
dc.description.number	255	pt_BR
dc.type.origin	Nacional	pt_BR

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