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dc.contributor.authorAloise, Giulliano R.pt_BR
dc.contributor.authorFichtner, Paulo Fernando Papaleopt_BR
dc.date.accessioned2014-01-24T01:52:17Zpt_BR
dc.date.issued1999pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/86689pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoporpt_BR
dc.relation.ispartofSalão de Iniciação Científica (11. : 1999 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 1999.pt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectEngenharia metalúrgicapt_BR
dc.titleCaracterização de estruturas cristalinas por microdifração de elétronspt_BR
dc.typeResumo publicado em eventopt_BR
dc.contributor.eventSalão de iniciação Científica (11. : 1999 out. 25-29 : UFRGS, Porto Alegre, RS).pt_BR
dc.identifier.nrb000301210pt_BR
dc.subject.sessionEngenharia de Materiais IIIpt_BR
dc.subject.cnpqEngenhariaspt_BR
dc.description.number127pt_BR
dc.type.originNacionalpt_BR


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