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New approach for structural characterization of planar sets of nanoparticles embedded into a solid matrix

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New approach for structural characterization of planar sets of nanoparticles embedded into a solid matrix

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Título New approach for structural characterization of planar sets of nanoparticles embedded into a solid matrix
Autor Sanchez, Dario Ferreira
Marmitt, Gabriel Guterres
Marin, Cristiane
Baptista, Daniel Lorscheitter
Azevedo, Gustavo de Medeiros
Grande, Pedro Luis
Fichtner, Paulo Fernando Papaleo
Abstract In this work we demonstrate that Medium Energy Ion Scattering (MEIS) measurements in combination with Transmission Electron Microscopy (TEM) or Grazing Incidence Small Angle X-Ray Scattering (GISAXS) can provide a complete characterization of nanoparticle (NP) systems embedded into dielectric films. This includes the determination of the nanoparticle characteristics (location, size distribution and number concentration) as well as the depth distribution and concentration of the NP atomic components dispersed in the matrix. Our studies are performed considering a model case system consisting of planar arrangements of Au NPs (size range from 1 to 10 nm) containing three distinct Au concentrations embedded in a SiO2 film.
Contido em Scientific reports. London. Vol. 3 (Dec. 2013), 3414, 6 p.
Assunto Espalhamento
Microscopia eletronica de transmissao
Nanoparticulas
Propriedades estruturais
Origem Estrangeiro
Tipo Artigo de periódico
URI http://hdl.handle.net/10183/93392
Arquivos Descrição Formato
000911636.pdf (2.396Mb) Texto completo (inglês) Adobe PDF Visualizar/abrir

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