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Growth kinetics of solid-state-reacted fe-zr multilayer films

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Growth kinetics of solid-state-reacted fe-zr multilayer films

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Título Growth kinetics of solid-state-reacted fe-zr multilayer films
Autor Paesano Junior, Andrea
Teixeira, Sergio Ribeiro
Amaral, Livio
Abstract Multilayers of Fee0.33Zr0.67, prepared by electron beam evaporation, have been characterized by conversion electron Mijssbauer spectroscopy, Rutherford backscattering spectroscopy, and x-ray diffraction. Two phases, one amorphous and another crystalline (FeZr3), occur by solid-state reaction. For temperatures of 350 and 500 °C and annealing times ranging from 10 min to 72 h the growth rates of both phases had been obtained. From these results we suggest a model to describe the phase growth kinetics of the amorphouscrystalline Fe0.33Zr0.67 multilayer thin film.
Contido em Journal of Applied Physics. Woodbury. Vol. 70, n. 9 (Nov. 1991), p. 4870-4876
Assunto Efeito mossbauer
Filmes finos
Implantacao de ions
Raios X
Retroespalhamento rutherford
Origem Estrangeiro
Tipo Artigo de periódico
URI http://hdl.handle.net/10183/95349
Arquivos Descrição Formato
000055570.pdf (933.0Kb) Texto completo (inglês) Adobe PDF Visualizar/abrir

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