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dc.contributor.advisorRibas, Renato Perezpt_BR
dc.contributor.authorDal Bem, Viníciuspt_BR
dc.date.accessioned2016-06-17T02:09:05Zpt_BR
dc.date.issued2016pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/142737pt_BR
dc.description.abstractStructured ASICs with regular layouts comprise a design-based solution for IC manufacturing yield loss in nanometer technologies caused by photolithography distortions. Via-configurable structured ASICs is even a more restrictive digital IC design method, based on the repetition of a block template comprising all layout layers except the vias one. The choice of such a design strategy impacts greatly the final circuit characteristics, arising the need for specific CAD tools to allow template evaluation and comparison in different aspects. This work presents a SAT-based CAD environment for evaluating the logical capacity aspect of via-configurable block templates. The proposed environment is able to support any user-defined template, and behaves efficiently when applied to block templates presented in related literature.en
dc.description.abstractASICs estruturados com leiautes regulares representam uma das soluções para a perda de rendimento de fabricação de circuitos integrados em tecnologias nanométricas causada pela distorção de fotolitografia. Um método de projeto de circuitos integrados ainda mais restritivo resulta em ASICs estruturados configuráveis apenas pelas camadas de vias, que são compostos pela repetição do mesmo modelo de bloco em todas as camadas do leiaute, exceto as camadas de vias. A escolha do modelo de bloco tem grande influência nas características do circuito final, criando a demanda por novas ferramentas de CAD que possam avaliar e comparar tais modelos em seus diversos aspectos. Esta tese descreve um ambiente de CAD baseado em SAT, capaz de avaliar o aspecto de capacidade lógica em padrões de blocos configuráveis por vias. O ambiente proposto é genérico, podendo tratar quaisquer padrões de bloco definido pelo usuário, e se comporta de maneira eficiente quando aplicado aos principais padrões já publicados na literatura.pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.language.isoengpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.subjectManufacturing yielden
dc.subjectCircuitos integradospt_BR
dc.subjectNanometer technologyen
dc.subjectPhotolithographyen
dc.subjectStructured ASICen
dc.subjectRegular layouten
dc.subjectVia-configurableen
dc.subjectCADen
dc.subjectComputer-aided designen
dc.subjectSATen
dc.subjectSatisfiabilityen
dc.subjectBlock templatesen
dc.subjectLogical capacityen
dc.subjectDigital IC designen
dc.titleSAT based environment for logical capacity evaluation of via configurable block templatespt_BR
dc.typeTesept_BR
dc.contributor.advisor-coReis, Andre Inaciopt_BR
dc.identifier.nrb000994883pt_BR
dc.degree.grantorUniversidade Federal do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.degree.departmentInstituto de Informáticapt_BR
dc.degree.programPrograma de Pós-Graduação em Microeletrônicapt_BR
dc.degree.localPorto Alegre, BR-RSpt_BR
dc.degree.date2016pt_BR
dc.degree.leveldoutoradopt_BR


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