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    • Análise do envelhecimento e da robustez à radiação em circuitos digitais 

      Guterres, Eduarda de Castro (2024) [Work completion of graduation]
      Este estudo teve como objetivo analisar como o envelhecimento afeta a robustez de circuitos integrados em relação à radiação, focalizando nos efeitos do Bias Temperature Instability (BTI) e do Single Event Transient (SET). ...