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dc.contributor.advisorReis, Ricardo Augusto da Luzpt_BR
dc.contributor.advisorRenaudin, Marcpt_BR
dc.contributor.authorBastos, Rodrigo Possamaipt_BR
dc.date.accessioned2011-08-16T06:01:21Zpt_BR
dc.date.issued2010pt_BR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10183/31102pt_BR
dc.description.abstractOs circuitos integrados recentes baseados em tecnologias nanoeletrônicas estão significativamente mais vulneráveis a falhas transientes. Os erros gerados são assim também mais críticos do que eram antes. Esta tese apresenta uma nova virtude em termos de confiabilidade dos circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos (QDI): a sua grande habilidade natural para mitigar falhas transientes de longa duração, que são severas em circuitos síncronos modernos. Uma metodologia para avaliar comparativamente os efeitos de falhas transientes tanto em circuitos síncronos como em circuitos assíncronos QDI é apresentada. Além disso, um método para obter a habilidade de mitigação de falhas transientes dos elementos de memória de circuitos QDI (ou seja, os C-elements) é também proposto. Por fim, técnicas de mitigação são sugeridas para aumentar ainda mais a atenuação de falhas transientes por parte dos Celements e, por consequência, também a robustez dos sistemas assíncronos QDI.pt_BR
dc.description.abstractRecent deep-submicron technology-based ICs are significantly more vulnerable to transient faults. The arisen errors are thus also more critical than they have ever been before. This thesis presents a further novel benefit of the Quasi-Delay Insensitive (QDI) asynchronous circuits in terms of reliability: their strong natural ability to mitigate longduration transient faults that are severe in modern synchronous circuits. A methodology to evaluate comparatively the transient-fault effects on synchronous and QDI asynchronous circuits is presented. Furthermore, a method to obtain the transient-fault mitigation ability of the QDI circuits’ memory elements (i.e., the C-elements) is also proposed. Finally, mitigation techniques are suggested to increase even more the Celements’ transient-fault attenuation, and thus also the QDI asynchronous systems’ robustness.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.language.isoengpt_BR
dc.rightsOpen Accessen
dc.subjectDesign of robust or fault-tolerant systemsen
dc.subjectMicroeletrônicapt_BR
dc.subjectMicroprocessadorespt_BR
dc.subjectQDI asynchronous circuitsen
dc.subjectTransient faultsen
dc.subjectTolerancia : Falhaspt_BR
dc.subjectSoft errorsen
dc.subjectEvaluation of transient-fault effectsen
dc.titleTransient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuitspt_BR
dc.title.alternativeSistemas robustos a falhas transientes explorando circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos pt
dc.typeTesept_BR
dc.contributor.advisor-coKastensmidt, Fernanda Gusmão de Limapt_BR
dc.contributor.advisor-coSicard, Gillespt_BR
dc.identifier.nrb000781734pt_BR
dc.degree.grantorUniversidade Federal do Rio Grande do Sulpt_BR
dc.degree.departmentInstituto de Informáticapt_BR
dc.degree.programPrograma de Pós-Graduação em Microeletrônicapt_BR
dc.degree.localPorto Alegre, BR-RSpt_BR
dc.degree.date2010pt_BR
dc.degree.leveldoutoradopt_BR


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