• Ferramentas para simulação de falhas transientes 

      Bartra, Walter Enrique Calienes (2011) [Dissertação]
      Atualmente, a simulação de falhas é um estágio importante em qualquer desenvolvimento de Circuitos Integrados. A predição de falhas comportamentais em qualquer estagio do processo é essencial para garantir que o chip ...
    • Modelamento do single-Event effiects em circuitos de memória FDSOI 

      Bartra, Walter Enrique Calienes (2016) [Dissertação]
      Este trabalho mostra a comparação dos efeitos das falhas provocadas pelos Single-Event Effects em dispositivos 28nm FDSOI, 28nm FDSOI High-K e 32nm Bulk CMOS e células de memória 6T SRAM feitas com estes dispositivos. Para ...