Navegação Microeletrônica por Assunto "Total ionizing dose (TID)"
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Análise de variabilidade e desempenho em transistores ELT para aplicações analógicas
(2022) [Dissertação]Este trabalho estuda os impactos no desempenho elétrico e na variabilidade de transistores MOSFETs projetados utilizando a técnica de geometria fechada (do inglês “Enclosed Layout Transistor” – ELT), uma técnica de proteção ... -
Impacto dos desvios de tensão de limiar induzidos por radiação ionizante no desempenho dos blocos básicos de dois amplificadores operacionais complementares
(2012) [Dissertação]Este trabalho estuda os efeitos de dose total ionizante (TID – Total Ionizing Dose) em amplificadores operacionais e em seus blocos básicos de construção. A radiação ionizante presente no espaço pode afetar o funcionamento ...