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Análise e estudo estatístico de deformações causadas por implantação de hélio em silício

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Análise e estudo estatístico de deformações causadas por implantação de hélio em silício

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Evento Salão de Iniciação Científica (8. : 1996 set. 09-13 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título Análise e estudo estatístico de deformações causadas por implantação de hélio em silício
Autor Lisboa, Marcelo Britto
Fichtner, Paulo Fernando Papaleo
Contido em Salão de Iniciação Científica (8. : 1996 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 1996.
Sessão FÍSICA ATÔMICA
Assunto Ciências exatas e da terra
Fisica da materia condensada
Silicio : Microscopia eletronica de transmissao : Estatistica : Bolhas
Implantacao de ions
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/101317
Arquivos Descrição Formato
000149658.pdf (9.818Kb) Resumo Adobe PDF Visualizar/abrir

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