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Interferometric monitoring of dip coating

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Interferometric monitoring of dip coating

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Título Interferometric monitoring of dip coating
Autor Michels, Alexandre Fassini
Menegotto, Thiago
Horowitz, Flavio
Abstract Dip-coated films, which are widely used in the coating industry, are usually measured by capacitive methods with micrometric precision. For the first time to our knowledge, we have applied an interferometric determination of the evolution of thickness in real time to nonvolatile Newtonian mineral oils with several viscosities and distinct dip withdrawing speeds. The evolution of film thickness during the process depends on time as t 1 2, in accordance with a simple model. Comparison with measured results with an uncertainty of 0.007 m showed good agreement after the initial steps of the process had been completed.
Contido em Applied optics (2004). Washington, DC. Vol. 43, no. 4 (Feb. 2004), p. 820-823
Assunto Filmes oticos
Interferometria luminosa
Polarimetria
Viscosidade
Origem Estrangeiro
Tipo Artigo de periódico
URI http://hdl.handle.net/10183/107159
Arquivos Descrição Formato
000400820.pdf (124.1Kb) Texto completo Adobe PDF Visualizar/abrir

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