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Testes e desenvolvimento de rotinas para roteamento de circuitos VLSI

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Testes e desenvolvimento de rotinas para roteamento de circuitos VLSI

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Evento Salão de Iniciação Científica (06. : 1994 out. 17-21 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título Testes e desenvolvimento de rotinas para roteamento de circuitos VLSI
Autor Schneider, Claudia Dornelles
Johann, Marcelo de Oliveira
Orientador Reis, Ricardo Augusto da Luz
Contido em Salão de Iniciação Científica (6. : 1994 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 1994.
Assunto Ciências exatas e da terra
Roteamento : Circuitos integrados
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/109753
Arquivos Descrição Formato
000258343.pdf (16.54Kb) Resumo Adobe PDF Visualizar/abrir

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