Repositório Digital

A- A A+

Estudo de retroespalhamento Rutherford em camadas de SiO/sub 2/ implantados com Ge e Si

.

Estudo de retroespalhamento Rutherford em camadas de SiO/sub 2/ implantados com Ge e Si

Mostrar registro completo

Estatísticas

Evento Salão de iniciação Científica (16. : 2004 out. 25-29 : UFRGS, Porto Alegre, RS).
Título Estudo de retroespalhamento Rutherford em camadas de SiO/sub 2/ implantados com Ge e Si
Autor Kremer, Felipe
Lopes, João Marcelo Jordão
Orientador Zawislak, Fernando Claudio
Contido em Salão de Iniciação Científica (16. : 2004 : Porto Alegre) . Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2004.
Sessão Implantação Iônica e Análise Elementar
Assunto Ciências exatas e da terra
Física
Tipo Resumo publicado em evento
URI http://hdl.handle.net/10183/61544
Arquivos Descrição Formato
000540984.pdf (108.8Kb) Resumo Adobe PDF Visualizar/abrir

Este item está licenciado na Creative Commons License

Este item aparece na(s) seguinte(s) coleção(ões)


Mostrar registro completo

Percorrer



  • O autor é titular dos direitos autorais dos documentos disponíveis neste repositório e é vedada, nos termos da lei, a comercialização de qualquer espécie sem sua autorização prévia.
    Projeto gráfico elaborado pelo Caixola - Clube de Criação Fabico/UFRGS Powered by DSpace software, Version 1.8.1.