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Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores

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Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores

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Título Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores
Outro título Integrated test of software and hardware: reusing software test cases to test of microprocessor
Autor Meirelles, Paulo Roberto Miranda
Orientador Cota, Erika Fernandes
Co-orientador Lubaszewski, Marcelo Soares
Data 2008
Nível Mestrado
Instituição Universidade Federal do Rio Grande do Sul. Instituto de Informática. Programa de Pós-Graduação em Computação.
Assunto Injecao : Falhas
Microeletronica
Microprocessadores
Sistemas embarcados
Testes : Software
[en] Embedded systems
[en] Fault injection
[en] Hardware testing
[en] Microprocessor testing
[en] Process testing
[en] Software testing
Resumo Sistemas embarcados estão mais complexos e são cada vez mais utilizados em contextos que exigem muitos recursos computacionais. Isso significa que o hardware embarcado pode ser composto por vários processadores, memórias, partes reconfiguráveis e ASIPs integrados em um único silício. Adicionalmente, o software embarcados pode conter muitas rotinas de programação executadas sob restrição de processamento e memória. Esse cenário estabelece uma forte dependência entre o hardware e o software embarcado. Portanto, o teste de um sistema embarcado compreende o teste do hardware e do software. Neste contexto, a reutilização de procedimentos e estruturas de teste é um caminho para se reduzir o tempo de desenvolvimento e execução dos testes. Neste trabalho é apresentado um método de teste integrado de hardware e software. Nesse método, casos de teste desenvolvidos para testar o software embarcado também são usados para testar o seu processador. Comparou-se os custos e cobertura de falhas do método proposto com técnicas de auto-teste funcional. Os resultados experimentais demonstraram que foi possível reduzir os custos de aplicação e geração do teste do sistema usando um método de teste integrado de software e hardware.
Abstract Embedded Systems are more complexity. Nowadays, they are used in context that requires computational resources. This means an embedded hardware may be compound of several processors, memories, reconfigurable parts, and ASICs integrated in a single die. Additionally, an embedded software has a lot of programming procedures, which is under processing and memory constraints. This scenario provides a stronger connection between hardware and software. Therefore, the test of an embedded system is the test of both, hardware and software. In this context, reuse of testing structures and procedures is one way to reduce the test development time and execution. This work presents an integrated test of software and software method. In this method, test cases developed to test the embedded software are also used to test its processor. We compared the costs and fault coverage of our proposed method with techniques of functional self-test. The experimental results show that it is possible to reduce the implementation and test generation costs using an integrated test of software and hardware.
Tipo Dissertação
URI http://hdl.handle.net/10183/25520
Arquivos Descrição Formato
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